ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外，探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達 50μm。
| 電源電壓 | 110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| 最大過程路徑 | (50 x 50 x 50) mm / α-Rotation ±180° |
| 最小過程路徑 | (10 x 10 x 10) μm / α-Rotation 1° |
| 移動速度 | (10 x 10 x 5) mm/s / α-Rotation 90°/s |
| 重量 | 23 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (350 x 400 x 420) mm |
| 3D-掃描 |  |
| 表面掃描 |  |
ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外，探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達 50μm。
| 電源電壓 | 110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| 最大過程路徑 | (50 x 50 x 50) mm / α-Rotation ±180° |
| 最小過程路徑 | (10 x 10 x 10) μm / α-Rotation 1° |
| 移動速度 | (10 x 10 x 5) mm/s / α-Rotation 90°/s |
| 重量 | 23 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (350 x 400 x 420) mm |
| 3D-掃描 | |
| 表面掃描 | |
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